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台积电,5nm,测试,芯片,良率
1 文章
台积电早期5nm测试芯片良率80% 2020上半年推出
作者
dawei
在12月12日的IEEE国际电子器件大会(IEDM 2019)上,台积电概述自家5nm工艺上取得的初步成果。